| 電容的失效模式和失效機(jī)理（一） |
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| 上架時(shí)間：2017-10-28 10:25:48 | 瀏覽量：273 | |
深圳市易容信息技術(shù)有限公司
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1.電容的失效模式和失效機(jī)理（一） 電容器的常見(jiàn)失效模式有：擊穿短路；致命失效 ――開(kāi)路；致命失效 ――電參數(shù)變化（包括電容量超差、損耗角正切值增大、絕緣性能下降或漏電流上升等． 失效模式的失效機(jī)理 一，引起電容器擊穿的主要失效機(jī)理 ①電介質(zhì)材料有疵點(diǎn)或缺陷，或含有導(dǎo)電雜質(zhì)或?qū)щ娏Ｗ樱?②電介質(zhì)的電老化與熱老化； ③電介質(zhì)內(nèi)部的電化學(xué)反應(yīng)； ④銀離子遷移； ⑤電介質(zhì)在電容器制造過(guò)程中受到機(jī)械損傷； ⑥電介質(zhì)分子結(jié)構(gòu)改變； ⑦在高濕度或低氣壓環(huán)境中極間飛弧； ⑧在機(jī)械應(yīng)力作用下電介質(zhì)瞬時(shí)短路。 二，引起電容器開(kāi)路的主要失效機(jī)理 ①引線部位發(fā)生“自愈“，使電極與引出線絕緣； ②引出線與電極接觸表面氧化，造成低電平開(kāi)路； ③引出線與電極接觸不良； ④電解電容器陽(yáng)極引出箔腐蝕斷裂； ⑤液體電解質(zhì)干涸或凍結(jié)； ⑥機(jī)械應(yīng)力作用下電介質(zhì)瞬時(shí)開(kāi)路。 三，引起電容器電參數(shù)惡化的主要失效機(jī)理 ①受潮或表面污染； ②銀離子遷移； ③自愈效應(yīng)； ④電介質(zhì)電老化與熱老化； ⑤工作電解液揮發(fā)和變稠； ⑥電極腐蝕； ⑦濕式電解電容器中電介質(zhì)腐蝕； ⑧雜質(zhì)與有害離子的作用； ⑨引出線和電極的接觸電阻增大。 同一失效模式有多種失效機(jī)理，同一失效機(jī)理又可產(chǎn)生多種失效模式。失效模式與失效機(jī)理之間的關(guān)系不是一一對(duì)應(yīng)的。 www.mlcc1.com/mlcc |
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