Agilent 安捷倫8720C矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀
8720C矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀簡單介紹
頻率范圍：50MHz到20GHz有快速掃描的內(nèi)置合成信號源集成化的轉(zhuǎn)換S參數(shù)測試裝置矢量接收機、誤差修正、時域功能從外部磁盤驅(qū)動器直接儲存/調(diào)用達103dB動態(tài)范圍
20GHz網(wǎng)絡(luò)分析儀的詳細介紹
Agilent8720C網(wǎng)絡(luò)分析儀
Agilent8720C矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀表征頻率范圍從50MHz到20GHz內(nèi)的RF/微波元件特性。Agilent8720C網(wǎng)絡(luò)分析儀包括一個快速掃頻源、S參數(shù)測試裝置、調(diào)諧接收機和大的彩色顯示。這種集成化設(shè)計使得Agilent8720C小型、經(jīng)濟和方便使用。Agilent8720C對于研究開發(fā)、生產(chǎn)制造、產(chǎn)品入庫檢驗或質(zhì)量保證機構(gòu)中有成本和時間意識的工程師來說，是一理想的選擇。
性能優(yōu)良且價格合理的分析儀
Agilent8720C網(wǎng)絡(luò)分析儀除價格能被接受外，其性能亦引人注目。集成信號源是全合成化的信號源，即使在掃描時，其穩(wěn)定度和精度也處在10ppm范圍(典型值)。另外，掃描速度極快。典型情況下，測量的更新時間約為每個測量點1ms，頻率分辨率標(biāo)準(zhǔn)為100kHz，選件001提供1Hz的分辨率，對窄帶或長延遲器件提供的測量。具有可變帶寬IF濾波器的調(diào)諧接收機提供達103dB的動態(tài)范圍。內(nèi)置轉(zhuǎn)換測試裝置用一次連接即可測量有4個S參數(shù)(正向和反向)。
兩個獨立的通道可同時顯示兩種測量結(jié)果，如反射和傳輸響應(yīng)。接收機對幅度和相位兩者進行檢測，并以多種實用的格式顯示測量結(jié)果，包括在直角坐標(biāo)、極坐標(biāo)或史密斯圓圖上顯示群延遲、與線性相位的偏離、復(fù)阻抗和SWR。
內(nèi)置的矢量精度增強措施對有通用同軸連接器提供優(yōu)良的誤差修正精度。用戶配件能提供由用戶定義的標(biāo)準(zhǔn)件，允許進行波導(dǎo)校準(zhǔn)(包括色散效應(yīng))。從簡單響應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)到全雙端誤差修正中選擇。或者使用TRL來測量夾具上的非同軸器件(微帶)。
測量有源器件的強有力的功能
Agilent8720C在其測量端口上有+10dBm的功率，有足夠的功率用于對放大器進行測試。對于一些靈敏的小信號器件，內(nèi)置步進衰減器可以將功率減小到-65dBm。利用功率計的校準(zhǔn)功能，功率電平可以在系統(tǒng)的任何地方進行調(diào)節(jié)。功率掃描功能和0.1dB的功率分辨率簡化了對有源器件的增益-壓縮特性的測試。此外，有2個內(nèi)部的T型通過測試端口用于偏置晶體管。
分析安裝在夾具中和晶片上的器件特性
利用TRL*校準(zhǔn)將夾具誤差減至小，以便對非同軸器件(如微帶)進行測量。也可以將網(wǎng)絡(luò)分析儀與晶片探測臺相結(jié)合，以便能在晶片上直接測量器件。電子端口延伸和選通也可用來提高精度。
時域和故障定位
用時域功能（選件010）對被測件（DUT）的響應(yīng)隨時間或距離（而不是頻率）的變化進行計算和顯示。還可利用時域來查找并定量表示一個網(wǎng)絡(luò)中個別故障或不連續(xù)點的位置。應(yīng)用選通功能來消除不希望的反射的影響（及時分離），然后觀察DUT的真實響應(yīng)隨頻率變化的情況。
8720C主要技術(shù)指標(biāo)
具有可選1 Hz頻率分辨率的快速掃描內(nèi)置合成信號源
開關(guān)綜合測試儀通過單一連接測量全部四個S參數(shù)
提高矢量精度
可選時域功能能夠計算并顯示響應(yīng)隨時間或距離的變化
可選固態(tài)開關(guān)支持同時測量正向和逆向參數(shù)，并根據(jù)兩部分誤差修正的需要持續(xù)更新全部四個S參數(shù)
合格/不合格測試、打印機/繪圖儀直接輸出結(jié)果、高級標(biāo)記功能以及保存/調(diào)用測試配置等特性可顯著提高生產(chǎn)效率
兩個獨立的顯示通道，用于同時測量反射和發(fā)射特征
本公司回收以下品牌各類儀器：
NI (美國國家儀器)、Tektronix泰克、HP/Agilent/Keysight（惠普/安捷倫/是德）、Keithley（吉時利）、KIKUSUI（菊水）、Panasonic（松下）、MINOLTA（美能達）、Anritsu（安立）、 ADVANTEST（愛德萬）、FLUK(福祿克)、MARCONI（馬克尼）、R/S（羅德&施瓦茨）、Chroma(致茂/可羅馬) 、Prodigit(博計) 、Extech(華儀)、JDSU(捷迪訊）、Ando（安騰）、Aeroflex（艾法斯）、ITECH(艾德克斯)、STANFORD（斯坦福）、Lambda（電盛蘭達）、YOKOGAWA（橫河）、EMCSOSIN（索莘）、RIGOL（普源）、IQ（萊特波特）、Lecroy（力科）、SUNLILAB（陽光）、Prima（普銳馬）、TOPCON（拓普）、SPIRENT(思博倫）、3ctest（泰斯特）、CYBERTEK(知用）、SHIBASOKU（芝測）、HAMEG（惠美）、TEXIO（德士）、EXFO（愛斯福）、GWINSTEK （固緯）
回收類別：
網(wǎng)絡(luò)分析儀、頻譜分析儀、綜合測試儀、示波器、信號發(fā)生器、信號分析儀、色彩分析儀、數(shù)字通訊測試儀、高頻信號源、頻率計、功率計、音頻分析儀、電源、數(shù)字源表、天饋線測試儀、光譜分析儀、噪聲系數(shù)分析儀、數(shù)字萬用表、靜電計/高阻表、函數(shù)信號發(fā)生器、LCR測試儀、電子負載、納伏表/皮安表、多用表校準(zhǔn)儀、廣播電視測試儀、高壓機/耐壓測試儀、NI機箱/模塊/控制器、 直流電源分析儀/模塊、數(shù)據(jù)采集器、邏輯分析儀、晶體管測試儀、調(diào)制度分析儀、藍牙測試儀、阻抗分析儀、視頻分析儀、光波測量系統(tǒng)、阻抗測試治具及附件、衰減器、探頭、RoHS/環(huán)保檢測儀、耦合板等等。
