供應(yīng) VRDM566/50LNC 百格拉
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VRDM564/50LTA
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VRDM568/50LNA
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VRDM568/50LHB
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VRDM568/50LVC
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VRDM397/50LWB
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VRDM397/50
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VRDM3910/50LNA
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VRDM3910/50LNB
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VRDM3910/50LWB
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VRDM3913/50LWB
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VRDM3913/50LNC
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VRDM3913/50LWC
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VRDM5913/50LNC
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WS5-5.281-00
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WS5-9.08100
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WD3-004.0801
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WD3-007
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WD3-008.0801
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WDM3-004.0801
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WDM3-004.1801
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WDP5-118.05100
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TLC511F
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D450.01
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D225.01
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WD3-004
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WP-311
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WP-318
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WDM3-008
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WDPM3-314.03200
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WDPM3-314.93202
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WDP3-028
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WDP3-014.0803
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WDP3-014
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WDP3-018.0801
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WDP3-118
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WDP3-228
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WDP3-314.0811
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WDP3-318
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WDP3-337
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WDP3-338
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WDP5-118.05100
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WDP5-228.051-00
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WDP5-318.05108
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SER397/4L7SS0CO
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MI-2498,10
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SER31122/4L5SS0CO
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VRDM597/50LSA
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WD5-008.061-00
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WDP3-314.98007
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31122/50
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WDP-0180801
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VRDM-3913/50-LWB
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TLC432F
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TLD136F
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工業(yè)電路板維修技巧
不能過分依賴在線測試儀
1.功能測試不能代替參數(shù)測試
2. 功能測試僅能測試到器件的截止區(qū)，放大區(qū)和飽和區(qū)，但無法了解此時的工作頻率的高低和速度的快慢。
3. 對數(shù)字芯片而言，僅知道有高低電平的輸出變化，但無法查出它的上升和下降沿的變化速度。
4. 對于模擬芯片，它處理的是模擬的變化量。其受電路的元器件的分布，解決信號方案的不同的影響，是錯綜復(fù)雜的。就目前的在線測試技術(shù)，要解決模擬芯片在線測試是不可能的。所以，這項功能測試的結(jié)果，僅能供參考。
5. 大多數(shù)的在線測試議，在對于電路板上的各類芯片進(jìn)行功能測試后，均會給出“測試通過”或“測試不通過”。那么它為什么不給出被測器件是否有問題呢？這就是這類測試儀的缺撼。因為在線測試時，所受影響（干擾）的因素太多。要求在測試前采取不少的措施（如斷開晶振，去掉CPU和帶程序的芯片，加隔離中斷信號等等），這樣做是否均有效，值得研究。至少，目前的測試結(jié)果有時不盡人意。
6. 了解在線測試儀的讀者，均知道有這么一句行話�！霸诰�測試時不通過的芯片不一定是損壞的；測試通過的芯片一定是沒有損壞的�！彼慕忉尀�，如器件受在線影響或抗干擾時，結(jié)果可能不通過，對此不難理解。那么，是否損壞的芯片在進(jìn)行測試時，均會得出“不通過”呢？回答確實不能肯定。筆者與同行均遇到過，明明芯片已損壞了（確切地說換上這個芯片板子就不工作了），但測試結(jié)果是通過的。權(quán)威解釋為這是測試儀自身工作原理（后驅(qū)動技術(shù)）所致。故此我們不能過分依賴在線測試儀（盡管各廠家宣傳的很玄）的作用，否則將使維修電路板的工作誤入歧途。
維修技巧之二
在無任何原理圖狀況下要對一塊比較陌生的電路板進(jìn)行維修，以往的所謂“經(jīng)驗”就難有作為，盡管硬件功底深厚的人對維修充滿信心，但如果方法不當(dāng)，工作起來照樣事倍功半。那么，怎樣做才能提高維修效呢？根據(jù)我公司進(jìn)口設(shè)備維修中心統(tǒng)計出來的資料，應(yīng)遵循以下幾個步驟、按順序有條不紊的進(jìn)行。
方法一：先看后量
使用工具：萬用表、放大鏡
當(dāng)手拿一塊待修的電路板，良好的習(xí)慣首先是應(yīng)對其進(jìn)行目測，必要時還要借助放大鏡，看什么呢？
主要看：
1、是否有斷線；
2、分力元件如電阻、電解電容、電感、二極管、三極管等時候存在斷開現(xiàn)象；
3、電路板上的印制板連接線是否存在斷裂、粘連等；
4、是否有人修過？動過哪些元器件？是否存在虛焊、漏焊、插反等操作方面的失誤；
在確定了被修無上述狀況后，首先用萬用表測量電路板電源和地之間的阻值，通常電路板的阻值都在70-80？以上，若阻值太小，才幾個或十幾個歐姆，說明電路板上有元器件被擊穿或部分擊穿，就必須采取措施將被擊穿的元器件找出來。具體辦法是給被修板供電，用手去摸電路板上各器件的
溫度，燙手的講師重點懷疑對象。若阻值正常，用萬用表測量板上的阻、二極管、三極管、場效應(yīng)管、撥段開關(guān)等分力元件，其目的就是首先要確保測量過的元件是正常的，我們的理由是，能用萬用表解決的問題，就不要把它復(fù)雜化。
方法二：先外后內(nèi)
使用工具：電路在線維修儀
如果情況允許，是找一塊與被維修板一樣的好板作為參照，然后使用一起的雙棒VI曲線掃描功能對兩塊板進(jìn)行好、壞對比測試，起始的對比點可以從端口開始，然后由表及里，尤其是對電容的對比測試，可以彌補(bǔ)萬用表在線難以測出是否漏電的缺憾。
方法三：先易后難
使用工具：電路在線維修儀、電烙鐵、記號筆
為提高測試效果，在對電路板進(jìn)行在線功能測試前，應(yīng)對被修板做一些技術(shù)處理，以盡量削弱各種干擾對測試進(jìn)程帶來的負(fù)面影響。具體措施是：
1、測試前的準(zhǔn)備
將晶振短路,對大的電解電容要焊下一條腳使其開路，因為電容的充放電同樣也能帶來干擾。
2、采用排除法對器件進(jìn)行測試
對器件進(jìn)行在線測試或比較過程中，凡是測試通過（或比較正常）的器件，請直接確認(rèn)測試結(jié)果，以便記錄；對測試未通過（或比較超差）的，可再測試一遍，若還是未通過，也可先確認(rèn)測試結(jié)果，就這樣一直測試下去，直到將板上的器件測試（或比較）完，然后再回過頭來處理那些未通過測試（或比較超差）的器件。對未通過功能在線測試的器件，儀器還提供了一種不太卻又比較實用的處理方法，由于儀器對電路板的供電可以通過測試夾施加到器件相應(yīng)的電源與地腳，若對器件的電源腳實施刃割，則這個器件將脫離電路板供電系統(tǒng)，這時再對該器件進(jìn)行在線功能測試，由于電路板上的其他器件將不會再起干擾作用，實際測試效果等同于“準(zhǔn)離線”，測準(zhǔn)率將獲得很大提高。
3、用ASA-VI曲線掃描測試對測試庫尚未涵蓋的器件進(jìn)行比較測試
由于ASA-VI智能曲線掃描技術(shù)能適用于對任何器件的比較測試，只要測試夾能將器件夾住，再有一塊參照板，通過對比測試，同樣對器件具備較強(qiáng)的故障偵測能力。該功能彌補(bǔ)了器件在線功能測試要受制于測試庫的不足，拓展了儀器對電路板故障的偵測范圍。現(xiàn)實中往往會出現(xiàn)無法找到好板做參照的情景，而且待修板本身的電路結(jié)構(gòu)也無任何對稱性，在這種情況下，ASA-VI曲線掃描比較測試功能起不了作用，而在線功能測試由于器件測試庫的不完全，無法完成對電路板上每一個器件都測試一遍，電路板依然無法修復(fù)，這兒就是電路在線維修儀的局限，就跟沒有包治百病的藥一樣。
方法四：先靜后動
由于電路在線維修儀目前只能對電路板上的器件進(jìn)行功能在線測試和靜態(tài)特征分析，是否完全修好必須要經(jīng)過整機(jī)測試檢驗，因此，在檢驗時先檢查一下設(shè)備的電源是否按要求正確供給到電路板上。
維修技巧之三
用萬能表檢測電路板
1.離線檢測
測出IC芯片各引腳對地之間的正,反電阻值.以此與好的IC芯片
進(jìn)行比較,從而找到故障點.
2.在線檢測
1)直流電阻的檢測法
同離線檢測.但要注意:
(a)要斷開待測電路板上的電源;
(b)萬能表內(nèi)部電壓不得大于6V;
(c)測量時,要注意外圍的影響.如與IC芯片相連的電位器等.
2)直流工作電壓的測量法
測得IC芯片各腳直流電壓與正常值相比即可.但也要注意：
(a)萬能表要有足夠大的內(nèi)阻,數(shù)字表為;
(b)各電位器旋到中間位置;
(c)表筆或探頭要采取防滑措施,可用自行車氣門芯套在筆頭上,
并應(yīng)長出筆尖約5mm;
(d)當(dāng)測量值與正常值不相符時,應(yīng)根據(jù)該引腳電壓,對IC芯片正
常值有無影響以及其它引腳電壓的相應(yīng)變化進(jìn)行分析;
(e)IC芯片引腳電壓會受外圍元器件的影響.當(dāng)外圍有漏電,短路,
開路或變質(zhì)等;
(f)IC芯片部分引腳異常時,則從偏離大的入手.先查外圍元器件,
若無故障,則IC芯片損壞;
(g)對工作時有動態(tài)信號的電路板,有無信號IC芯片引腳電壓是不
同的.但若變化不正常則IC芯片可能已壞;
(h)對多種工作方式的設(shè)備,在不同工作方式時IC腳的電壓是不同
的.
3)交流工作電壓測試法
用帶有dB檔的萬能表,對IC進(jìn)行交流電壓近似值的測量.若沒有dB
檔,則可在正表筆串入一只0.1-0.5μF隔離直流電容.該方法適用
于工作頻率比較低的IC.但要注意這些信號將受固有頻率,波形不
同而不同.所以所測數(shù)據(jù)為近似值,僅供參考.
4)總電流測量法
通過測IC電源的總電流,來判別IC的好壞.由于IC內(nèi)部大多數(shù)為直
流耦合,IC損壞時(如PN結(jié)擊穿或開路)會引起后級飽和與截止,使
總電流發(fā)生變化.所以測總電流可判斷IC的好壞.在線測得回路電
阻上的電壓,即可算出電流值來.
以上檢測方法,各有利弊.在實際應(yīng)用中將這些方法結(jié)合來運用.運用好了
就能維修好各種電路板。
維修技巧之四
集成電路代換技巧
一、直接代換
直接代換是指用其他IC不經(jīng)任何改動而直接取代原來的IC，代換后不影響機(jī)器的主要性能與指標(biāo)。
其代換原則是：代換IC的功能、性能指標(biāo)、封裝形式、引腳用途、引腳序號和間隔等幾方面均相同。其中IC的功能相同不僅指功能相同；還應(yīng)注意邏輯極性相同，即輸出輸入電平極性、電壓、電流幅度必須相同。例如：圖像中放IC，TA7607與TA7611，前者為反向高放AGC，后者為正向高放AGC，故不能直接代換。除此之外還有輸出不同極性AFT電壓，輸出不同極性的同步脈沖等IC都不能直接代換，即使是同一公司或廠家的產(chǎn)品，都應(yīng)注意區(qū)分。性能指標(biāo)是指IC的主要電參數(shù)（或主要特性曲線）、耗散功率、工作電壓、頻率范圍及各信號輸入、輸出阻抗等參數(shù)要與原IC相近。功率小的代用件要加大散熱片。其中
1.同一型號IC的代換
同一型號IC的代換一般是可靠的，安裝集成電路時，要注意方向不要搞錯，否則，通電時集成電路很可能被燒毀。有的單列直插式功放IC，雖型號、功能、特性相同，但引腳排列順序的方向是有所不同的。例如，雙聲道功放IC LA4507，其引腳有“正”、“反”之分，其起始腳標(biāo)注（色點或凹坑）方向不同；沒有后綴與后綴為"R"的IC等,例如 M5115P與M5115RP.
2.不同型號IC的代換
⑴型號前綴字母相同、數(shù)字不同IC的代換。這種代換只要相互間的引腳功能完全相同，其內(nèi)部電路和電參數(shù)稍有差異，也可相互直接代換。如：伴音中放IC LA1363和LA1365，后者比前者在IC第⑤腳內(nèi)部增加了一個穩(wěn)壓二極管，其它完全一樣。
⑵型號前綴字母不同、數(shù)字相同IC的代換。一般情況下，前綴字母是表示生產(chǎn)廠家及電路的類別，前綴字母后面的數(shù)字相同，大多數(shù)可以直接代換。但也有少數(shù)，雖數(shù)字相同，但功能卻完全不同。例如，HA1364是伴音IC，而uPC1364是色解碼IC；4558，8腳的是運算放大器NJM4558,14腳的是CD4558數(shù)字電路；故二者完全不能代換。
⑶型號前綴字母和數(shù)字都不同IC的代換。有的廠家引進(jìn)未封裝的IC芯片，然后加工成按本廠命名的產(chǎn)品。還有如為了提高某些參數(shù)指標(biāo)而改進(jìn)產(chǎn)品。這些產(chǎn)品常用不同型號進(jìn)行命名或用型號后綴加以區(qū)別。例如，AN380與uPC1380可以直接代換；AN5620、TEA5620、DG5620等可以直接代換。
二、非直接代換
非直接代換是指不能進(jìn)行直接代換的IC稍加修改外圍電路，改變原引腳的排列或增減個別元件等，使之成為可代換的IC的方法。
代換原則：代換所用的IC可與原來的IC引腳功能不同、外形不同，但功能要相同，特性要相近；代換后不應(yīng)影響原機(jī)性能。
1.不同封裝IC的代換
相同類型的IC芯片，但封裝外形不同，代換時只要將新器件的引腳按原器件引腳的形狀和排列進(jìn)行整形。例如，AFT電路CA3064和CA3064E，前者為圓形封裝，輻射狀引腳；后者為雙列直插塑料封裝，兩者內(nèi)部特性完全一樣，按引腳功能進(jìn)行連接即可。雙列IC AN7114、AN7115與LA4100、LA4102封裝形式基本相同,引腳和散熱片正好都相差180°。前面提到的AN5620帶散熱片雙列直插16腳封裝、TEA5620雙列直插18腳封裝，9、10腳位于集成電路的右邊，相當(dāng)于AN5620的散熱片，二者其它腳排列一樣，將9、10腳連起來接地即可使用。
2.電路功能相同但個別引腳功能不同IC的代換
代換時可根據(jù)各個型號IC的具體參數(shù)及說明進(jìn)行。如電視機(jī)中的AGC、視頻信號輸出有正、負(fù)極性的區(qū)別，只要在輸出端加接倒相器后即可代換。
3.類型相同但引腳功能不同IC的代換
這種代換需要改變外圍電路及引腳排列，因而需要一定的理論知識、完整的資料和豐富的實踐經(jīng)驗與技巧。
4。有些空腳不應(yīng)擅自接地
內(nèi)部等效電路和應(yīng)用電路中有的引出腳沒有標(biāo)明，遇到空的引出腳時，不應(yīng)擅自接地，這些引出腳為更替或備用腳，有時也作為內(nèi)部連接。
5.用分立元件代換IC
有時可用分立元件代換IC中被損壞的部分，使其恢復(fù)功能。代換前應(yīng)了解該IC的內(nèi)部功能原理、每個引出腳的正常電壓、波形圖及與外圍元件組成電路的工作原理。同時還應(yīng)考慮：
⑴信號能否從IC中取出接至外圍電路的輸入端：
⑵經(jīng)外圍電路處理后的信號，能否連接到集成電路內(nèi)部的下一級去進(jìn)行再處理（連接時的信號匹配應(yīng)不影響其主要參數(shù)和性能）。如中放IC損壞，從典型應(yīng)用電路和內(nèi)部電路看，由伴音中放、鑒頻以及音頻放大級成，可用信號注入法找出損壞部分，若是音頻放大部分損壞，則可用分立元件代替。
6.組合代換
組合代換就是把同一型號的多塊IC內(nèi)部未受損的電路部分，重新組合成一塊完整的IC，用以代替功能不良的IC的方法。對買不到原配IC的情況下是十分適用的。但要求所利用IC內(nèi)部完好的電路一定要有接口引出腳。
非直接代換關(guān)鍵是要查清楚互相代換的兩種IC的基本電參數(shù)、內(nèi)部等效電路、各引腳的功能、IC與外部元件之間連接關(guān)系的資料。實際操作時予以注意：
⑴集成電路引腳的編號順序，切勿接錯；
⑵為適應(yīng)代換后的IC的特點，與其相連的外圍電路的元件要作相應(yīng)的改變；
⑶電源電壓要與代換后的IC相符，如果原電路中電源電壓高，應(yīng)設(shè)法降壓；電壓低，要看代換IC能否工作。
⑷代換以后要測量IC的靜態(tài)工作電流，如電流遠(yuǎn)大于正常值，則說明電路可能產(chǎn)生自激，這時須進(jìn)行去耦、調(diào)整。若增益與原來有所差別，可調(diào)整反饋電阻阻值；
⑸代換后IC的輸入、輸出阻抗要與原電路相匹配；檢查其驅(qū)動能力。
⑹在改動時要充分利用原電路板上的腳孔和引線,外接引線要求整齊，避免前后交叉，以便檢查和防止電路自激，特別是防止高頻自激;
[7]在通電前電源Vcc回路里再串接一直流電流表，降壓電阻阻值由大到小觀察集成電路總電流的變化是否正常。
維修技巧之五
維修經(jīng)驗總結(jié)
一.帶程序的芯片
1.EPROM芯片一般不宜損壞.因這種芯片需要紫外光才能擦除掉程序,
故在測試中不會損壞程序.但有資料介紹:因制作芯片的材料所致,隨著
時間的推移(年頭長了),即便不用也有可能損壞(主要指程序).所以要
盡可能給以備份.
2.EEPROM,SPROM等以及帶電池的RAM芯片,均極易破壞程序.這類芯片
是否在使用<測試儀>進(jìn)行VI曲線掃描后,是否就破壞了程序,還未有定
論.盡管如此,同仁們在遇到這種情況時,還是小心為妙.筆者曾經(jīng)做過
多次試驗,可能大的原因是:檢修工具(如測試儀,電烙鐵等)的外殼漏電
所致.
3.對于電路板上帶有電池的芯片不要輕易將其從板上拆下來.
二.復(fù)位電路
1.待修電路板上有大規(guī)模集成電路時,應(yīng)注意復(fù)位問題.
2.在測試前裝回設(shè)備上,反復(fù)開,關(guān)機(jī)器試一試.以及多按幾次復(fù)
位鍵.
三.功能與參數(shù)測試
1.<測試儀>對器件的檢測,僅能反應(yīng)出截止區(qū),放大區(qū)和飽和區(qū).但不
能測出工作頻率的高低和速度的快慢等具體數(shù)值等.
2.同理對TTL數(shù)字芯片而言,也只能知道有高低電平的輸出變化.而無
法查出它的上升與下降沿的速度.
四.晶體振蕩器
1.通常只能用示波器(晶振需加電)或頻率計測試,萬用表等無法測量,
否則只能采用代換法了.
2.晶振常見故障有:a.內(nèi)部漏電,b.內(nèi)部開路c.變質(zhì)頻偏d.外圍相連電
容漏電.這里漏電現(xiàn)象,用<測試儀>的VI曲線應(yīng)能測出.
3.整板測試時可采用兩種判斷方法:a.測試時晶振附近既周圍的有關(guān)
芯片不通過.b.除晶振外沒找到其它故障點.
4.晶振常見有2種:a.兩腳.b.四腳,其中第2腳是加電源的,注意不可隨
意短路.
五.故障現(xiàn)象的分布
1.電路板故障部位的不完全統(tǒng)計:1)芯片損壞30%, 2)分立元件損壞30%,
3)連線(PCB板敷銅線)斷裂30%, 4)程序破壞或丟失10%(有上升趨勢).
2.由上可知,當(dāng)待修電路板出現(xiàn)聯(lián)線和程序有問題時,又沒有好板子,既
不熟悉它的連線,找不到原程序.此板修好的可能性就不大了.
